Kontaktperson
Mikolaj Malinowski
Forsknings-och utvecklingsingenjör
Kontakta Mikolaj
Högupplöst topografimätning av ytor med instrument FRT MicroProf
Topografin hos pappers- och kartongytan spelar en avgörande roll för tryckbarhet och visuell upplevelse.
Många typer av instrument kan mäta ytor med olika detaljgrad. I jämförelse med andra metoder har instrumentet FRT MicroProf fördelen att kombinera hög upplösning och stor mätyta. Förutom papper och kartong kan många andra typer av ytor mätas
Syfte
Topografidefekter kan kvantifieras på ett detaljerat sätt.
Klassificering av olika provers topografi kan göras.
Metod
Instrumentet använder en kontaktlös högupplöst sensor som baseras på konfokalmikroskopi och kromatisk aberration. När vitt ljus passerar genom en lins med kromatisk aberration, fokuserar olika färger på olika avstånd. Färgkompositionen av reflekterat ljus analyseras och översätts till en höjdposition.
En yta analyseras med hjälp av en styrbar provhållare på ett vacuumbord medan sensorn är fixerad i x/y-position. Upplösning i x/y är från 2x2 µm och z-upplösningen är 3 nm.
Leveranser
Höjddata som bild eller profiler och bilder samt vanliga topografiparametrar som Ra, Rz etc., beroende på kunds behov.
Bandpassfiltrerad höjddata med bildanalystekniken Fast Fourier transform (FFT) för att dela upp höjdvariation i spatiala storleksklasser för att få råhetskomponenter i olika våglängdsband.
Resultat i form av Excel- och Wordfil.
