Hoppa till huvudinnehåll
RISE logo

SEM med EDX/EDS

Att kunna avbilda en yta i hög förstoring och samtidigt ha möjligheten att identifiera vilka grundämnen som finns närvarande i intressanta områden eller i små detaljer på ytan är en mycket användbar metod för att lösa många slags problem. Metoden används ofta vid skadeutredningar och det kan t.ex. handla om att studera brottytor, att identifiera föroreningar, beläggningar eller missfärgningar, att mäta och identifiera tunna skikt eller att avbilda, mäta och identifiera partiklar, fibrer, flagor, m.m.

Syfte

Svepelektronmikroskopi (SEM) används för avbildning, med möjlighet till mycket hög förstoring, av t.ex. ytor, preparerade tvärsnitt och små detaljer. Skärpedjupet är mycket stort vid avbildning, vilket ger tydliga bilder även vid stora variationer i topografi. Detta gör att SEM är tacksamt att använda även för avbildning vid låga förstoringar.

Med energidispersiv röntgenanalys/spektroskopi (EDX/EDS) kan grundämnessammansättningen mätas, på ett utvalt område av en yta eller av små detaljer såsom partiklar, fibrer, m.m. Även bilder med information om hur enskilda grundämnen fördelar sig lateralt över en analyserad yta, s.k. EDX-mapping, kan mätas upp.

SEM/EDX är en mycket användbar metod vid skadeutredningar. Analys av ytor kan ge svar på frågor som rör ytstruktur, mikrosprickor, föroreningar, beläggningar, missfärgningar, m.m. Analys av preparerade tvärsnitt kan göras t ex med avseende på mikrosprickor, porositet, tunna skikt, inklusioner, m.m. Analys av enskilda partiklar, flagor, fibrer, material som skrapats från en yta, m.m. kan ge svar både vad gäller utseende såsom storlek, form, ytstruktur, antal, etc. och grundämnes-sammansättning.

Metod

Analys kan göras på alla typer av fasta material, både elektriskt ledande och isolerande. Analysdjupet är i storleksordning 1 µm och analysen görs i vakuum.

Ett isolerande material beläggs ofta med ett tunt, elektriskt ledande skikt av t ex guld/palladium för att undvika uppladdningseffekter av provet. Skiktet är så tunt att det inte påverkar analysresultaten. Ett annat sätt är att analysera isolerande prover i lågvakuum. Då behöver inte provet beläggas med något elektriskt ledande skikt.

Tvärsnitt av ett prov kan prepareras genom att provet gjuts in i t.ex. epoxi, varpå tvärsnittet slipas och poleras fram med stor precision.

Leveranser

Resultat levereras i form av en rapport med bilagda SEM-foton och analysresultat med tolkningar och förklaringar. Enbart SEM-foton kan också levereras i de fall då en formell rapport ej är nödvändig.

Beställning

Kontakta någon av personerna nedan för beställning

Fakta

Tjänst

Svepelektronmikroskopi (SEM), energidispersiv röntgenanalys (EDX, EDS)

Typ

Provning / analys / utvärdering

Område

Materialomställning, Ytteknik

Leveransnivå

Oackrediterad

Pris

Kontakta någon av personerna nedan för prisuppgift eller offert

Leveranstid

Analyser kan oftast (dock beroende av rådande beläggning vid beställning) påbörjas inom 2-3 veckor efter att vi erhållit beställning och provobjekt. Hur lång tid uppdraget tar beror på omfattning

Förberedelser

Kunden ansvarar för att tillhandahålla korrekt märkta provföremål samt nödvändig information vid t.ex. skadeutredningar

Lena Lindman

Kontaktperson

Lena Lindman

Civilingenjör

+46 10 516 54 31
lena.lindman@ri.se

Läs mer om Lena

Kontaktperson

Konrad Tarka

Enhetschef

+46 10 516 56 80
konrad.tarka@ri.se

Läs mer om Konrad