Gå direkt till innehåll

Mätning och analys av ytstruktur

Uppfyller ytan kraven? Vilka förändringar i ytstrukturen blir effekten av att en process ändras? Hur skiljer sig strukturen på en yta jämfört med en annan? Hur påverkas ytstrukturen av slitage? Frågor som dessa kan besvaras genom att göra en beröringsfri optisk mätning av ytan som sedan analyseras som en 3D-yta eller en 2D-profil.


Den här tjänsten är även relevant inom Fordon och framtidens transport, Produktion och tillverkning, Material och beständighet

Information om tjänsten

Tjänst
Mätning och analys av ytstruktur
Storhetsområde
Längd och geometri
Standarder

ISO 4287

ISO 13565

ISO 21920

ISO 25178

Pris
Pris vid offertförfrågan
Leveranstid

Enligt överenskommelse


Beställning

CAPTCHA
Genom att skicka in formuläret behandlar RISE dina personuppgifter.

Johan Fast Berglund

Forskare
+46 10 228 47 04 Läs mer om Johan

Kontakta Johan

CAPTCHA

* Obligatoriskt

Genom att skicka in formuläret behandlar RISE dina personuppgifter.

Jonas Holmberg

Forskare
+46 70 780 60 72 Läs mer om Jonas

Kontakta Jonas

CAPTCHA

* Obligatoriskt

Genom att skicka in formuläret behandlar RISE dina personuppgifter.

Syfte

Ytstruktur kallas ibland ytjämnhet, ytfinhet, ytråhet, topografi eller yttopografi. Det är olika begrepp som avser en ytas geometriska form i liten skala, ofta i mikro- och nanometerområdet. Ytstruktur är viktigt för en komponents funktion och prestanda i många fall. Förändringar i produktionsprocess avspeglas ofta också i förändringar i ytstruktur på tillverkade komponenter.

Med kontroll över ytstrukturen går det att säkerställa att specifikationer är väl formulerade och huruvida komponenter uppfyller specifikationerna. Det går att trimma in produktionsprocesser och att hitta specifikationer som säkerställer väl fungerande ytor.

Metod

Beröringsfri optisk mätning med interferens- eller konfokalmikroskopi eller fokusvariation efter behov. Även möjlighet till indirekt mätning av ytor via avgjutning.

Mätområden kan vara flera centimeter stora och upplösningen kan vara så hög som delar av mikrometer lateralt och nanometer vertikalt.

Leveranser

Dokumentation enligt överenskommelse.