Leo är ansvarig för området tillförlitlighet och felanalys frågor kring elektronik. Han är nationell koordinator för projektet Failure Analysis - AI-Readiness and Application, samt ChipsJU - Moore4Power.
Hans forskningsbakgrund är kring modellering, materialanalys, kärnmagnetisk resonansspektroskopi och tomografi, Raman spektroskopi, röntgenspridning, diffusion, bildanalys.
Kontakta mig gärna för frågor om tillämpning av Fingerprints prognostik.
Fråga mig om
Fråga mig om