Leo är ansvarig för området tillförlitlighet och felanalys frågor kring elektronik. Han är nationell koordinator för projektet Failure Analysis - AI-Readiness and Application, samt ChipsJU - Moore4Power.
Hans forskningsbakgrund är kring modellering, materialanalys, kärnmagnetisk resonansspektroskopi och tomografi, Raman spektroskopi, röntgenspridning, diffusion, bildanalys.
Kontakta mig gärna för frågor om tillämpning av Fingerprints prognostik.
Fråga mig om