Högupplöst topografimätning av ytor med instrument FRT MicroProf
Topografin hos pappers- och kartongytan spelar en avgörande roll för tryckbarhet och visuell upplevelse.
Många typer av instrument kan mäta ytor med olika detaljgrad. I jämförelse med andra metoder har instrumentet FRT MicroProf fördelen att kombinera hög upplösning och stor mätyta. Förutom papper och kartong kan många andra typer av ytor mätas
Den här tjänsten är även relevant inom Sensorer och sensorsystem, Metrologi och mätteknik, Material och beständighet
Information om tjänsten
- Tjänst
- Högupplöst topografimätning av ytor med instrument FRT MicroProf
- Storhetsområde
- Längd och geometri
- Pris
- Pris vid offertförfrågan
- Leveranstid
Resultat inom 2 veckor efter att vi fått proverna
- Förberedelser
Skicka proverna till oss.
Vi föredrar provstorlek A4 men även andra storlekar fungerar.
Vänligen märk vilken sida som ska mätas samt maskinriktning.
Syfte
Topografidefekter kan kvantifieras på ett detaljerat sätt.
Klassificering av olika provers topografi kan göras.
Metod
Instrumentet använder en kontaktlös högupplöst sensor som baseras på konfokalmikroskopi och kromatisk aberration. När vitt ljus passerar genom en lins med kromatisk aberration, fokuserar olika färger på olika avstånd. Färgkompositionen av reflekterat ljus analyseras och översätts till en höjdposition.
En yta analyseras med hjälp av en styrbar provhållare på ett vacuumbord medan sensorn är fixerad i x/y-position. Upplösning i x/y är från 2x2 µm och z-upplösningen är 3 nm.
Leveranser
Höjddata som bild eller profiler och bilder samt vanliga topografiparametrar som Ra, Rz etc., beroende på kunds behov.
Bandpassfiltrerad höjddata med bildanalystekniken Fast Fourier transform (FFT) för att dela upp höjdvariation i spatiala storleksklasser för att få råhetskomponenter i olika våglängdsband.
Resultat i form av Excel- och Wordfil.