Molekylär analys av material och ytor med avbildande masspektrometri
Med ToF-SIMS kan vi ta fram information om materialytors molekylära sammansättning och avbilda hur olika komponenter är fördelade på ytan. Alla fasta material kan analyseras, men metoden är speciellt kraftfull för organiska föreningar. Vi kan mäta på mycket låga provmängder och avbilda specifika molekyler med hög rumslig upplösning på ett sätt som inte är möjligt med andra analysmetoder.
RISE erbjuder unik expertis och utrustning för molekylär analys av ytor och material med ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry), alltifrån mindre analysuppdrag till längre samarbeten inom forskning och utveckling. Med vår långa erfarenhet av att lösa problem inom en rad olika brancher hjälper vi till med att planera och genomföra analyserna, samt att tolka och utvärdera resultaten utifrån den specifika frågeställningen. Exempel på frågeställningar och analysuppgifter vi kan hjälpa till med är:
- Problemlösning för tillverkningsindustri inom olika brancher, t.ex.
- vidhäftningsproblem
- missfärgningar
- beläggningar
- tvättning/föroreningsproblem
- Karakterisering av avancerade/sammansatta material för undersökning av komponenternas rumsliga fördelning, t.ex.
- tillsatser i polymerer
- ytskikt eller skiktade material
- funktionaliserade ytor
- läkemedel
- batterier
- Analys av komplexa naturliga material, t.ex.
- biologiska vävnader
- geologiska prover
- papper och trä
- Kemisk analys av partiklar
- enstaka partiklar ned till 10-100 µm diameter kan analyseras
Metrologi och mätteknik
Energi och elektrifiering
Hälsa och Life Science
Material och beständighet
