Kontaktperson
Niklas Nordgren
Projektledare
Kontakta Niklas
Ytanalys och karakterisering - en instrumentworkshop
En endagsworkshop om instrument för ytanalys och karakterisering. Under dagen kommer du att få möjlighet att bekanta dig med en rad olika tekniker.
Att förstå ytegenskaper och materialstruktur är avgörande inom forskning, produktutveckling, kvalitetskontroll och felsökning i många branscher – från medicinteknik och förpackningar till energi, textil och elektronik. Denna workshop ger dig en unik möjlighet att lära dig grunderna i några av de mest kraftfulla analysmetoderna inom materialvetenskap.
Under besöken i RISE:s laboratorier får du en kort introduktion till varje teknik av våra specialister och möjlighet att se instrumenten i praktiken. I slutet av dagen har du en tydligare bild av hur dessa analysmetoder kan stödja ditt företag eller din organisation inom forskning, produkt- och processutveckling samt felsökning.
Denna workshop är avsedd för ingenjörer, laboratoriepersonal och forskare som arbetar med forskning, utveckling eller kvalitetskontroll av produkter för vilka yt- eller gränssnittsegenskaper har en stor inverkan på produktens prestanda.
Workshopen hålls på engelska.
Program
Omdömen
Program
Denna workshop ger en översikt av tekniker för att analysera ytspänning, vätbarhet, kemisk sammansättning, ytstruktur och friktion. Genom teori och demonstrationer introduceras instrument som tensiometer, AFM, SEM/EDX, XPS m.fl. med fokus på materialytors egenskaper och struktur.
Under workshopen får du en introduktion till ett brett utbud av avancerade analysmetoder för att studera materialytor och strukturer. Vi går igenom både teoretiska grunder och praktisk användning av följande tekniker:
- Tensiometer – ytspänning, vätbarhet och absorption
- XPS/ESCA – kemisk sammansättning med röntgenfotoelektronspektroskopi
- AFM (Atomic Force Microscopy) – yttopografi, bildanalys och ytkrafter
- Kontaktvinkelmätningar – vätbarhet hos fibrer, pulver och ytor
- FTIR-imaging – kemisk bildanalys med infraröd spektroskopi
- Profilometer – mätning av yttopografi
- SEM/EDX/ESEM – svepelektronmikroskopi med kemisk analys och ytskikt
- Force Board – mätning av taktil friktion
- Konfokal Ramanspektroskopi – kemisk sammansättning och bildanalys
- QCM-D - Adsorption/desorption på ytor
- SAXS/WAXS - Materialstruktur
Omdömen
Jag fick en bra överblick över de olika tillgängliga teknikerna. Informationen presenterades på ett sätt som gjorde det lätt att bedöma om tekniken skulle kunna vara användbar i mitt arbete.
