Mätning och analys av ytstruktur

Uppfyller ytan kraven? Vilka förändringar i ytstrukturen blir effekten av att en process ändras? Hur skiljer sig strukturen på en yta jämfört med en annan? Hur påverkas ytstrukturen av slitage? Frågor som dessa kan besvaras genom att göra en beröringsfri optisk mätning av ytan som sedan analyseras som en 3D-yta eller en 2D-profil.

Syfte

Ytstruktur kallas ibland ytjämnhet, ytfinhet, ytråhet, topografi eller yttopografi. Det är olika begrepp som avser en ytas geometriska form i liten skala, ofta i mikro- och nanometerområdet. Ytstruktur är viktigt för en komponents funktion och prestanda i många fall. Förändringar i produktionsprocess avspeglas ofta också i förändringar i ytstruktur på tillverkade komponenter.

Med kontroll över ytstrukturen går det att säkerställa att specifikationer är väl formulerade och huruvida komponenter uppfyller specifikationerna. Det går att trimma in produktionsprocesser och att hitta specifikationer som säkerställer väl fungerande ytor.

Metod

Beröringsfri optisk mätning med interferens- eller konfokalmikroskopi eller fokusvariation efter behov. Även möjlighet till indirekt mätning av ytor via avgjutning.

Mätområden kan vara flera centimeter stora och upplösningen kan vara så hög som delar av mikrometer.