Kontaktperson

SAXS/WAXS/GISAXS mätningar på nanostrukturerade material
Är du nyfiken på nanostrukturen i ditt material? Vi erbjuder karakterisering av nanostrukturerade material med SAXS, WAXS och GISAXS mätningar på vår experimentstation på lab. Beroende av materialtyp innebär materialkarakteriseringen analys av storlek, form, periodicitet, porositet, orientering, kristallin struktur osv.
Syfte
Karakterisering av materials nanostruktur ger en möjlighet att förstå samband mellan process, struktur och materials egenskaper.
- Känner du till sambanden mellan nanostruktur och makroskopiska t ex mekaniska egenskaper hos ditt material?
- Kommer dina processparametrar att påverka nanostrukturen i ditt material?
- Planerar du att göra avancerade röntgenspridningsstudier på synkrotronanläggning? SAXSpoint 2.0 ger analysresultat av materials nanostruktur nära synkrotronnivån.
Metod
SAXS* mätningar ger information om strukturer i storleksintervallet 1 - 170 nm. Metoden är korrekt, icke-förstörande och kräver vanligtvis endast ett minimum av provberedning. SAXSpoint 2.0 är ett unikt, avancerat, automatiserat SAXS / WAXS* / GISAXS*-instrument från Anton Paar. För att minimera bakgrundstörning är provkammaren under vakuum, vilket innebär att provmiljön måste vara vakuumkompatibel. Glaskapillärer används för vätskor och våta prover kan monteras i provhållare med fönster av Kapton-film. SAXS och WAXS mätningar görs på samma provuppsättning med spridningsvinklar upp till 65 °. En bakgrundsmätning av luft / vatten mellan Kapton-filmerna görs normalt med samma inställningar. Bakgrundmätningen subtraheras från provmätningarna.
GISAXS är en spridningsteknik som används för att studera nanostrukturerade ytor och tunna filmer. Provet monteras på en GISAXS-provhållare.
SAXSpoint 2.0 instrument data:
• röntgenkälla: Microsource Supernova Copper, våglängd 1,541 Å
• röntgenoptik och kollimation: ASTIX optik och linjering av röntgenstråle
• provhållare för vätskor, fast material, pulver och tunna filmer
• provmiljö: vakuum; omgivnings- eller temperaturkontrollerad
• detektor: 2 D Eiger R 1M
• tillgängligt q-område: 0,037 nm-¹ till 43,9 nm-¹, 170 nm > d > 0.14 nm
• mjukvara: SAXSdrive™ för mätning och SAXSanalysis™ för analys
* Small-Angle X-ray Scattering (SAXS), Wide-Angle X-ray Scattering (WAXS) och Grazing-Incidence Small Angle X-ray Scattering (GISAXS)
Leveranser
Mätdata samt rapport med analysresultat.
Beställning
För mer information och pris kontakta Anita Teleman anita.teleman@ri.se Jasna Stevanic Srndovic jasna.stevanic@ri.se Tomas Larsson tomas.larsson@ri.se
Fakta
Tjänst
SAXS/WAXS/GISAXS mätningar på nanostrukturerade material
Område
Bioekonomi, Formulerade produkter, Förpackning, Kemiska processer och produkter, Livsmedel, Läkemedel, Massa och papper, Materialomställning, Produktion och tillverkning, Provning, Textil, Träteknik, Ytteknik
Pris
Kontakta oss för prisinformation.
Leveranstid
Leveranstid beror på analysens omfattning.
Förberedelser
Kontakta oss för diskussion av mängd material mm. Möjlighet att vara med vid mättillfället.
