Hoppa till huvudinnehåll
RISE logo

SAXS/WAXS/GISAXS mätningar på nanostrukturerade material

Är du nyfiken på nanostrukturen i ditt material? Vi erbjuder karakterisering av nanostrukturerade material med SAXS, WAXS och GISAXS mätningar på vår experimentstation på lab. Beroende av materialtyp innebär materialkarakteriseringen analys av storlek, form, periodicitet, porositet, orientering, kristallin struktur osv.

Syfte

Karakterisering av materials nanostruktur ger en möjlighet att förstå samband mellan process, struktur och materials egenskaper.

  • Känner du till sambanden mellan nanostruktur och makroskopiska t ex mekaniska egenskaper hos ditt material?
  • Kommer dina processparametrar att påverka nanostrukturen i ditt material?
  • Planerar du att göra avancerade röntgenspridningsstudier på synkrotronanläggning? SAXSpoint 2.0 ger analysresultat av materials nanostruktur nära synkrotronnivån.

Metod

SAXS* mätningar ger information om strukturer i storleksintervallet 1 - 170 nm. Metoden är korrekt, icke-förstörande och kräver vanligtvis endast ett minimum av provberedning. SAXSpoint 2.0 är ett unikt, avancerat, automatiserat SAXS / WAXS* / GISAXS*-instrument från Anton Paar. För att minimera bakgrundstörning är provkammaren under vakuum, vilket innebär att provmiljön måste vara vakuumkompatibel. Glaskapillärer används för vätskor och våta prover kan monteras i provhållare med fönster av Kapton-film. SAXS och WAXS mätningar görs på samma provuppsättning med spridningsvinklar upp till 65 °. En bakgrundsmätning av luft / vatten mellan Kapton-filmerna görs normalt med samma inställningar. Bakgrundmätningen subtraheras från provmätningarna.

GISAXS är en spridningsteknik som används för att studera nanostrukturerade ytor och tunna filmer. Provet monteras på en GISAXS-provhållare.

SAXSpoint 2.0 instrument data:

• röntgenkälla: Microsource Supernova Copper, våglängd 1,541 Å

• röntgenoptik och kollimation: ASTIX optik och linjering av röntgenstråle

• provhållare för vätskor, fast material, pulver och tunna filmer

• provmiljö: vakuum; omgivnings- eller temperaturkontrollerad

• detektor: 2 D Eiger R 1M

• tillgängligt q-område: 0,037 nm-¹ till 43,9 nm-¹, 170 nm > d > 0.14 nm

• mjukvara: SAXSdrive™ för mätning och  SAXSanalysis™ för analys

* Small-Angle X-ray Scattering (SAXS), Wide-Angle X-ray Scattering (WAXS) och Grazing-Incidence Small Angle X-ray Scattering (GISAXS)

Leveranser

Mätdata samt rapport med analysresultat.

Beställning

För mer information och pris kontakta Anita Teleman anita.teleman@ri.se Jasna Stevanic Srndovic jasna.stevanic@ri.se Tomas Larsson tomas.larsson@ri.se

Fakta

Tjänst

SAXS/WAXS/GISAXS mätningar på nanostrukturerade material

Område

Bioekonomi, Formulerade produkter, Förpackning, Kemiska processer och produkter, Livsmedel, Läkemedel, Massa och papper, Materialomställning, Produktion och tillverkning, Provning, Textil, Träteknik, Ytteknik

Pris

Kontakta oss för prisinformation.

Leveranstid

Leveranstid beror på analysens omfattning.

Förberedelser

Kontakta oss för diskussion av mängd material mm. Möjlighet att vara med vid mättillfället.

Anita Teleman

Kontaktperson

Anita Teleman

Principal Scientist

+46 10 228 46 43
anita.teleman@ri.se

Läs mer om Anita