SEM - Identifiering och kontroll av föroreningar i processmiljöer

Syfte

RISE är specialiserade på att identifiera och kontrollera kladd, fläckar och avlagringar. Ni kan lita på oss för att få en noggrann och detaljerad analys av era prov. Vi har en bred expertis och erfarenhet inom detta område och kan hantera en mångfald olika provtyper. Bland de material vi regelbundet analyserar finns massa, papper och kartong, men vi tar även emot prov såsom avskrap, prickar, gummiduk, tryckta slutprodukter, lösningar, inkruster och metaller.

Vår analysomfattning sträcker sig över flera områden, och vi kan utföra olika typer av uppdrag för att uppfylla era specifika behov. Det kan inkludera ytstudier för att undersöka ytmorfologi och struktur, kristallstrukturundersökningar för att bedöma materialens kristallina egenskaper, samt tvärsnittsanalyser för att få insikt i materialens inre struktur. Vi är också experter på att analysera fyllmedelsfördelning i tvärsnitt och utföra karaktärisering av fyllmedel, vilket kan vara avgörande för materialens egenskaper och prestanda.

Våra tjänster omfattar även vanliga analyser som pigmenttäckning och analys av grundämnessammansättning. Vi kan ge er en detaljerad bedömning av pigmentens täckningsegenskaper samt en noggrann analys av grundämnenas sammansättning i ert material. Dessutom utför vi inspektioner av bigar och bestrykningslager för att bedöma både antalet och sammansättningen av dessa materialskikt.

Metoder, intrument och kompetens

Svepelektronmikroskopi med energidispersiv röntgenspektroskopi (SEM/EDX) är ett exceptionellt instrument som används omfattande inom forskning och utveckling av material och processer inom olika branscher. SEM möjliggör avbildning med hög upplösning av ytor med förstoringar som sträcker sig från tiotals till hundratusentals gånger, vilket ger detaljerad information om materialens morfologi, topografi och mikrostruktur. Det gör det möjligt för forskare att visualisera ytegenskaper, såsom korn, porer, sprickor och beläggningar, med enastående klarhet och precision. Denna förmåga är ovärderlig för att studera relationen mellan struktur och egenskaper hos material, förstå ytfenomen och optimera processparametrar.

Förutom avbildning kombineras SEM ofta med energidispersiv röntgenspektroskopi (EDX), vilket möjliggör elementanalys av provet. EDX detekterar karakteristiska röntgenstrålar som utsänds från provet när det bombarderas med en elektronstråle i SEM. Genom att analysera energin och intensiteten hos dessa röntgenstrålar kan EDX identifiera de element som finns i provet och bestämma deras relativa koncentrationer. Denna elementanalys ger värdefulla insikter om kemisk sammansättning, fördelning av element och föroreningar inom materialet.

Integrationen av SEM och EDX erbjuder flera fördelar inom forskning och utveckling av material och processer:

Elementanalys: EDX gör det möjligt för forskare att identifiera och kvantifiera den elementära sammansättningen hos material, vilket är avgörande för att förstå deras egenskaper, prestanda och beteende i olika miljöer.

Mikrostrukturell karaktärisering: SEM ger detaljerad avbildning av mikrostrukturer, medan EDX erbjuder kemisk information på specifika platser inom mikrostrukturen. Denna kombination underlättar omfattande mikrostrukturell analys, inklusive fasidentifiering, analys av korngränser och karaktärisering av defekter.

Studier av ytmorfologi: SEM möjliggör undersökning av ytegenskaper och texturer, medan EDX kan detektera ytföroreningar, beläggningar och elementfördelningar. Denna förmåga är avgörande för att undersöka tekniker för ytmodifiering, adhesionsmekanismer och processer för ytfunctionalisering.

Felanalys: SEM/EDX används omfattande för att undersöka rotorsakerna till materialfel, såsom brott, korrosion och slitage. Kombinationen av högupplöst avbildning och elementanalys hjälper till att identifiera felmekanismer, bedöma materialets integritet och utveckla strategier för att förbättra produkters pålitlighet och hållbarhet.

Optimering av processer: SEM/EDX kan användas för att utvärdera effekterna av processparametrar, behandlingar och tillverkningstekniker på materialens egenskaper och prestanda. Genom att korrelera mikrostrukturella egenskaper med kompositionsdata kan forskare optimera processförhållanden, förbättra produktkvaliteten och minimera defekter.

Kompetens:

RISE besitter en hög kompetens inom svepelektronmikroskopi (SEM) med omfattande erfarenhet av att hantera industriella prover. Dessa yrkesverksamma är skickliga på att förbereda prover, optimera avbildningsparametrar och tolka SEM-bilder för att extrahera meningsfull information om materialens struktur och sammansättning.

RISE:s expertis inom SEM sträcker sig till analys av industriella prover, inklusive metaller, polymerer, keramik, kompositer och mer. Oavsett om det handlar om att undersöka materialdefekter, karakterisera ytegenskaper eller studera mikrostrukturella förändringar på grund av bearbetning eller miljöfaktorer, har RISE förmågan att tackla en bred skala av industriella utmaningar med hjälp av SEM.

Leverans

RISE erbjuder en rapport som inkluderar data i Excel-format och relevanta bilder och diagram. Den är noggrant sammanställd med hjälp av standardmetoder för utförda analyserna. Rapporten innehåller även en bedömning av mätosäkerheten för att säkerställa tillförlitligheten hos de presenterade resultaten. Alla relevanta parametrar som är av betydelse för den specifika analysen tas med för att ge en fullständig bild av situationen. Dessutom inkluderas detaljerade kommentarer och förklaringar för att ge ytterligare insikt och förståelse för de presenterade data. 

RISE strävar efter att säkerställa högsta möjliga kvalitet och tillförlitlighet i de presenterade resultaten, vilket i sin tur hjälper kunder och intressenter att fatta välgrundade beslut baserade på den tillhandahållna informationen.

Mer information